Prueba de las características eléctricas de los semiconductores SMU Unidad S100 DC 30V 1A SMU Medida
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Unidad SMU de ensayo de características eléctricas de semiconductores, Unidad SMU DC S100, S100 Medición de la unidad SMU 30V 1A
Prueba de las características eléctricas de los semiconductores SMU Unidad S100 DC 30V 1A SMU Medida
La Unidad de Medición de la Fuente S100, meticulosamente diseñada por PRECISE INSTRUMENT, es un representante excepcional de los equipos de prueba nacionales.Rompe el largo monopolio de la tecnologí... Ver más
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Unidad DP100B de medidor de fuente de doble canal de 30V 30A con medición de voltaje / corriente
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Métro de fuente de doble canal de 30 V 30 A, Unidad DP100B del medidor de fuente, Unidad SMU de voltaje y corriente
Unidad DP100B de medidor de fuente de doble canal de 30V 30A con medición de voltaje / corriente
La unidad de medición de la fuente de pulso de escritorio de alta precisión DP100B de doble canal es la unidad de medición de la fuente de pulso de escritorio de alta precisión recientemente desarrollada... Ver más
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Unidad de medición de la fuente de pulso de 18V 1A de cuatro canales de tarjeta de subcarácter CBI403 SMU
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Medición de la fuente de 18V 1A de cuatro canales, Unidad de medición de la fuente de pulso de la tarjeta, CBI403 Medición de las PYME
Unidad de medición de la fuente de pulso de 18V 1A de cuatro canales de tarjeta de subcarácter CBI403 SMU
La subtarjeta modular CBI401 es un miembro de la familia de unidades de medición de fuentes (SMU) de la serie CS, diseñada para una caracterización eléctrica de alta precisión y alto rango dinám... Ver más
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300A 30V Fuente de alimentación de pulso de alta corriente HCPL030 para SiC IGBT GaN HEMT prueba
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Fuente de alimentación de impulsos de 300A 30V, Fuente de alta corriente de 300A 30V, Suministro de energía de pulso de prueba HEMT
300A 30V Fuente de alimentación de pulso de alta corriente HCPL030 para SiC IGBT GaN HEMT prueba
La fuente de alimentación de pulso de alta corriente de la serie HCPL030 es una fuente de corriente de pulso constante.con relé de control externo), soporte para medición de voltaje de pulso de dos canal... Ver más
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Unidad de medición de la fuente de alimentación de alta tensión de 1200V 100mA para el ensayo de tensión de avería IGBT
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Unidad de medición de la fuente de energía de alto voltaje, Fuente de alimentación de alta tensión de 1200V a 100mA, Fuente de alimentación de alta tensión IGBT
Fuente de alimentación de alta tensión de 1200V/100mA para ensayo de tensión de avería IGBT
El E100 es una unidad de medición de fuentes de alto voltaje de alto rendimiento diseñada específicamente para entornos de prueba de alto voltaje.y medir con precisión señales de corriente débil tan baja como... Ver más
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20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:20A Prueba de QCW de la fuente de alimentación láser, Fuente de alimentación láser de ensayo de 20A CW, HCPL002 Fuente de alimentación del láser de diodo
20A CW / 20A QCW Prueba de fuente de alimentación láser HCPL002 Fuente de alimentación láser de diodo de alta potencia
HCPL002 es una fuente de alimentación de prueba láser de alta potencia diseñada para satisfacer las necesidades de prueba más exigentes con tecnología avanzada.y las corrientes CW y... Ver más
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1MS/S Tarjeta de adquisición de datos A400 4 canales Tarjeta Daq de resolución ADC de 16 bits
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:A400 Tarjeta de adquisición de datos, Tarjeta Daq con resolución de 16 bits ADC, Tarjeta de adquisición de datos de 4 canales
1MS/S Tarjeta de adquisición de datos A400 4 canales Tarjeta Daq de resolución ADC de 16 bits
La tarjeta de adquisición de datos A400 es un tipo de tarjeta enchufable diseñada y desarrollada de forma independiente por Psysi, que admite muestreo de velocidad variable y almacenamiento de datos de gran... Ver más
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Sistemas de prueba de semiconductores de envejecimiento láser LDBI Sistema de prueba multicanal
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Sistemas de ensayo de semiconductores de envejecimiento láser, Sistemas de ensayo de semiconductores LDBI, Analisador de dispositivos de alimentación multicanal
Sistemas de prueba de semiconductores de envejecimiento láser LDBI Sistema de prueba multicanal
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